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    400-633-0908
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    權(quán)威公正 傳遞信任
    彰顯品質(zhì) 創(chuàng)造價(jià)值
    異物分析

    異物分析,是專(zhuān)門(mén)分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對(duì)表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。

    異物分析,是專(zhuān)門(mén)分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對(duì)表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。

     

    應(yīng)用范圍

    針對(duì)產(chǎn)品上的表面污染物、析出物等異常物質(zhì),如產(chǎn)品表面的顆粒物、油狀物、霧狀物、斑點(diǎn)等。


    表面異物分析項(xiàng)目

    1.有機(jī)異物分析

    2.無(wú)機(jī)異物分析

    3.未知異物分析

    4.產(chǎn)品異常現(xiàn)象比對(duì)分析


    主要分析方法

    方法

    應(yīng)用范圍

    紅外光譜法
    FTIR

    1.顯微FTIR, 僅需10um以上樣品即可測(cè)試
    2.有機(jī)物成分分析 (400-4000cm-1)

    掃描電子顯微鏡和能量色散X射線譜法
    SEM/EDS

    1.固體
    2.元素分析/元素分布 (B-~U) /形貌觀察

    俄歇電子能譜分析儀法
    AES

    極表面 (0-3nm) 分析設(shè)備

    X射線電子光能譜分析法
    XPS

    1.更精密的元素分析
    2.元素價(jià)態(tài), 存在形式分析

    飛行時(shí)間?次離子質(zhì)譜分析法
    TOF-SIMS

    ppm級(jí)別表面有機(jī)成分分析

    動(dòng)態(tài)?次離子質(zhì)譜分析法
    D-SIMS

    ppb級(jí)表面及芯部成分分析

    氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀分析法
    GC-MS

    1.固體/液體
    2.易揮發(fā)組分測(cè)試


    分析步驟

    1、表面觀察:主要采用光學(xué)顯微鏡觀察(OM)觀察異物在表面還是嵌入在基體材料內(nèi)。

    2、異物物質(zhì)種類(lèi)判斷:主要采用傅里葉變換紅外光譜儀(FTIR)、顯微紅外(M)判斷異物主要是有機(jī)物還是無(wú)機(jī)物。

    3、有機(jī)物分析手段:可能涉及Py-GCMS、萃取GC-MS、MS等。

    4、無(wú)機(jī)物分析手段(主要是元素分析):主要采用掃描電鏡能譜儀(SEM-EDS)等。


    測(cè)試儀器

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